千宇光学自主研发的应力双折射分布测试仪PRM系列，集高精度、高速度、高稳定于一身，采用独特的双折射算法，斯托克斯分量2D快速解析，广泛应用于光学薄膜、光学镜片（VR/AR镜头、眼镜片）、透明树脂、玻璃基板（智能手机和平板电脑、TGV）、碳化硅的及波导片应力双折射大小和分布信息测量。

一.核心优势及参数

1、高精度定量的应力分布测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪，可进行绝对值标定，可溯源

2、全视场圆偏光测量，定制核心光学元件显著提升测量精度
二.特点优势                       

1、毫秒级别采集速度
一键快速测量应力双折射的大小、方向和分布
2、5MP像素科学级制冷相机，高均匀光源
科学级制冷相机提供超高分辨率图像与优异信噪比，高均匀光源提升测量的一致性 
3、多波段宽量程，高精度稳定光
全视场圆偏光以及全视场校准，包含多波长测量，光学延迟测量量程大适用于多种材料的双折射测量
4、测试数据可溯源 高可靠 高精度
应力测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪，可进行绝对值标定、可溯源；定制高精度核心光学元件，显著提升测量精度
5、数据直观可视化，多元分析
二维分布图象，可根据客户要求，输出单点，多点或整面的相位差及光轴分布数据

三.量测项目
    相位延迟（°）、光学延迟（nm）应力（MPa）及方位角
四.应用领域

    高速精确地测量光学薄膜、光学镜片（VR/AR镜头、眼镜片）、透明树脂、玻璃基板（智能手机和平板电脑）、碳化硅的应力双折射大小和分布信息。

五.实测案例
     镜片光学膜量测
图一红色框区域相位差均值46.179nm                    

图二相位差分布直方图-均值46.215nm