一、设备介绍与参数：
       高精度定量测量 应力测试数据指标源于自研的高精度光谱式测试仪。设备采用高精度Muller矩阵，可解析多层相位差；
       打破进口设备垄断，在市场中占据主导地位。测试数据可溯源至国家计量标准与深圳中国计量科学研究院技术创新研究
       院保持长期合作，依据权威测试标准，验证定量数据可靠性。

二、特点优势：                       
           1、超高速一键式精准测量，斯托克斯分量2D快速解析         
           2、样品相位差分布图像与统计                                                                                 
           3、5MP高成像质量
           4、设备性能稳定，重复性优
           5、LED高偏振度光源，长寿命， 低维护成本
           6、可根据客户要求，输出单点，多点或整面的相位差及光轴分布值
           7、定制选项丰富，可根据被测样品的尺寸，定制镜头及光源尺寸

三、设备量测项目：相位差分布、光轴角度分布

四、应用领域：玻璃制品、光学镜片等低相位差材料的内应力测量

五、应力测试：镜片光学膜量测
图一红色框区域相位差均值46.179nm   
图二相位差分布直方图-均值46.215nm