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应力双折射检测技术:让“隐形”的应力显露真容
编辑:  发布时间:2026-01-14 浏览:117

一、基本原理

材料在成型过程中因材料的制备过程和结构导致,如晶体材料的晶格缺陷、材料的热膨胀系数不匹配等产生应力。偏振光透过材料时会发生偏振态调制,通过测量透射光的斯托克斯矢量推算出相位延迟量,得到材料内应力分布

二、核心优势

● 高速度 高精度

     搭配定制镜头一键快速测量应力双折射的大小、方向和分布


● 科学级制冷相机,高均匀光源

      科学级制冷相机提供超高分辨率图像与优异信噪比,高均匀光源提升测量的一致性


● 多波段宽量程,高精度稳定光学系统

     全视场圆偏光以及全视场校准,包含多波长测量,光学延迟测量量程大适用于多种材料的双折射测量  

  
● 测试数据可溯源 高可靠 高精度

     应力测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪,可进行绝对值标定,可溯源;定制高精度核心光学元件,显著提升测量精度


● 数据直观可视化,多元分析

     二维分布图象,可根据客户要求,输出单点,多点或整面的相位差及光轴分布数据

三、广泛应用

  • 光学与光电产业:检测镜头、激光晶体、光学镜片、玻璃基板等元件中的残余应力,确保其波前质量与长期稳定性。

  • 微电子与半导体:评估晶圆、封装材料在制造过程中的热机械应力,防止芯片性能衰退或开裂。

  • 航空航天与汽车:分析复合材料构件、挡风玻璃、发动机部件的应力分布,优化设计以实现轻量化与高可靠。

  • 新材料研发:直观表征复合材料界面应力、3D打印件的内应力分布等,指导工艺改进


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