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一、设备介绍
测试对象：偏光片、相位差膜、光学膜
测试项目：1.可测试单层补偿膜的波长分散性、面内补偿值 Re、
光轴方向（快轴和慢轴）、透过率、颜色
2.单层偏光片的透过率（单体、透过、直交）、偏光度、
色度（L a,b)、吸收轴（反射轴）透过率、透过
轴透过率、消光比
3.复合膜的贴合角测试：偏光片与波片（圆偏光）的贴合角、
相位差及全波段椭圆率（为了更精准的测试复合膜的吸收轴
角度，需要 PLM-10S 搭配使用）
二、优势特点
1、快速测试相位差贴合角
2、采用高精度探头，测量更稳定
3、采用进口高精度转台，可实现精准测量
4、提供贴合角、偏光度等更丰富配置
5、可提供计量检测报告，验证设备可靠性
三、规格参数
| 测量对象 | 偏光片、相位差膜、光学膜 |
| 测试光斑 | 2-3mm |
| 轴角度测试范围 | 0~180° |
| 光轴角度精度 | 根据不同样品±0.02°~±0.05° |
| 吸收轴测试精度 | ±0.02° |
| 相位差测量重复性 | 根据样品不同从 0.03nm~0.1nm |
| 正面位相差读数分辨率 | 0.001nm |
| 贴合角度重复性精度 | ≤0.05° |
| 测试波长范围 | 400nm~ 800nm（可拓展） |
| 测试波长最小间隔 | 1nm |
| 补偿值测试范围 | 0nm ~ 20000nm |
| 旋转角度(方位角) | 0 to 360°或者-180°~+180° |
| 输出数据 | 全波段输出数据 |
| 选配 | 可追加椎光镜头测试曲面样品 |
光谱仪参数 | 波长精度：±0.2nm |
| 光谱杂散光：＜0.05%（400nm） | |
| 信噪比：2000:1 | |
| 样品尺寸 | 50mm*50mm（可定制） |
| 本体尺寸 | 550mm✖400mm✖650mm（桌上型） |
| 保修时间 | 1 年 |
| 增值服务 | 新功能免费更新 |
| 注意事项：针对不带雾度及散射的样品，在测试透过率，偏光度等参数 时，可直接测得绝对值；在测试带雾度及散射的样品时，由于结 构上无法追加积分球，测得的透过率，偏光度等参数为相对值， 可根据其他仪器（例如分光光度计）去提取公差 | |
