引言
在光学材料、光电器件及半导体元件的制造过程中，残余应力往往是影响产品性能与寿命的隐形杀手。如何快速、精准地“看见”应力分布？应力双折射仪给出了答案
一、原理直击：从偏振光到应力分布图材料在成型及加工过程中，会因晶格缺陷、热膨胀系数不匹配等原因产生内部残余应力。当偏振光透过有应力的材料时，其偏振态会被调制。通过精确测量透射光的斯托克斯矢量，推算出相位延迟量，从而将不可见的内部应力分布，转化为可量化的光学信息。
应力双折射仪的应用范围极广，聚焦“透明材料应力检测”，覆盖实验室研发到工业生产全流程：
● 光电行业检测晶体、光学镜片、玻璃、透明树脂等元件的残余应力，确保成像质量与长期稳定性。
检测塑料薄膜、注塑件、亚克力制品等的内应力，减少产品变形、开裂、透光性差等问题
● 微电子与半导体评估晶圆、封装材料在制程中的热机械应力，防范芯片性能衰退或开裂风险。
千宇光学自主研发的应力分布测试仪PRM-10S，集高精度、高速度于一身，采用独特的双折射算法，全视场圆偏光下的应力测量。公司具备从光学元件到整机光学系统的全链条量测能力，应力测试数据指标源于自研的高精度相位差测试仪，可进行绝对值标定，可溯源。
极速精准，一键成像搭配定制镜头，一键快速测量应力双折射的大小、方向与分布，高度高精。
高精度稳定光学系统，多波段宽量程采用全视场圆偏光及全视场校准技术，支持多波长测量（如 525nm、633nm） 等。光学延迟量程大，广泛适用于各类双折射材料
科学级成像，均光无忧内置科学级制冷相机，提供超高分辨率图像与优异信噪比；高均匀光源提升测量的一致性
